Rohde & Schwarz et CST: "De la simulation à la mesure version CEM"

"Cet événement a pour but de vous faire découvrir la simulation numérique Électro Magnétique appliquée à la CEM, ainsi que les instruments et méthodes de mesure conduisant au marquage CE ou à sa pré-qualification. A cette occasion, il vous sera également présenté le dernier récepteur de mesure R&S®ESW, ainsi que sa nouvelle gamme d'amplificateur R&S®BBA150...

À l’issue des présentations théoriques du matin, les participants pourront découvrir tout au long de l’après-midi au travers d'un parcours d’ateliers, des exemples pratiques et représentatifs d’application CEM.

Les équipes de Rohde & Schwarz et de CST se tiendront à votre disposition pour échanger sur vos questions techniques.

Intervenant Rohde & Schwarz : Vincent Lascoste, Xavier Cheng, Cyril Fombonne
Intervenants CST : Yannis Braux, Jerome Mollet, Joao Costa, Christophe Morin

Pour vous inscrire, merci de communiquer vos coordonnées complètes par e-mail en cliquant sur le bouton 

ci-dessous : 

Attention, nombre de places limité, n’attendez pas pour vous inscrire ! Inscription

Programme

 

 Le séminaire se déroule de 8h30 à 17h30 avec le déjeuner offert

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08h30 : Accueil café

09h00 : Exposés théoriques 

Simulation CEM et méthodes numériques (CST)

Le test EMI: choix du bon instrument RF en fonction du standard appliqué (Rohde & Schwarz)

Exemples d’applications CEM simulées (CST)

Le test EMS: avoir certitude du niveau d'agression EM défini par le standard (Rohde & Schwarz)

12h45 - 14h00 : Déjeuner

14h00 : Parcours initiatique CEM avec

Ateliers simulation CEM 

Test conduction type BCI

Calcul efficacité de blindage de boitiers

Analyses Émissions dans une chambre de test CEM

Test Émission en conduction et rayonnement de PCB

Susceptibilité et Test ESD sur PCB

Interaction et couplage plusieurs antenne sur un même équipement

Méthodes et Moyens de mesure… 

Mesure d' émissions EMI en conduction (méthode classique et scan FFT selon le CISPR)

Recherche des spurious EMI en rayonné (avantage au Temps Réel en ETSI ou FCC)

Debug champ proche sur PCB

Test EMS en conduction (selon IEC1000-4-6 )

Test EMS en rayonnée (selon IEC1000-4-3 )

Mesure d'un moyen de couplage

Contact

 Pour tout renseignement, n‘hésitez pas à contacter : 

Véronique POTTIER-COURCELLES ou Manon CALVEZ

Tél : 01 41 36 10 00

E-mail : contact.rsf@rohde-schwarz.com